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平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精度的平面零件，例如：平面光學(xué)零件，高級(jí)平臺(tái)，平板，導(dǎo)軌，機(jī)械密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位，檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)。產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)：JJG28-2019計(jì)量檢定規(guī)程。

1）平晶的材料：光學(xué)K9，JGS1石英、進(jìn)口微晶（可按客戶需求選擇定制）

2） 平晶需在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內(nèi)進(jìn)行等溫，等溫時(shí)間不少于8h。

3）長(zhǎng)平晶標(biāo)準(zhǔn)精度符合：JJG28-2019計(jì)量檢定規(guī)程（非標(biāo)精度的可特殊定制）。

4）210型和310型長(zhǎng)平晶以及非標(biāo)長(zhǎng)平晶的主要技術(shù)指標(biāo)：

標(biāo)準(zhǔn)配置：長(zhǎng)平晶1塊，包裝盒1個(gè)，合格證1份；

選購(gòu)件（非標(biāo)配，根據(jù)客戶需要購(gòu)買）：計(jì)量機(jī)構(gòu)出具的證書；